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更新日期:2024-08-11
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
銷售微分干涉金相顯微鏡 該款微分干涉顯微鏡的設(shè)計原理是以平面偏振光為光源,光線經(jīng)棱鏡折射后分成兩束,在不同時間經(jīng)過樣品的相鄰部位,然后經(jīng)過另一棱鏡將這兩束光匯合,從而樣品中厚度上的微小差別就會轉(zhuǎn)化成明暗區(qū)別,增加了樣品反差,造成了三維立體感。
更新日期:2024-08-11
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
蘇州微分干涉金相顯微鏡 該款微分干涉顯微鏡的設(shè)計原理是以平面偏振光為光源,光線經(jīng)棱鏡折射后分成兩束,在不同時間經(jīng)過樣品的相鄰部位,然后經(jīng)過另一棱鏡將這兩束光匯合,從而樣品中厚度上的微小差別就會轉(zhuǎn)化成明暗區(qū)別,增加了樣品反差,造成了三維立體感。
更新日期:2024-08-11
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
微分干涉金相顯微鏡供應(yīng) 該款微分干涉顯微鏡的設(shè)計原理是以平面偏振光為光源,光線經(jīng)棱鏡折射后分成兩束,在不同時間經(jīng)過樣品的相鄰部位,然后經(jīng)過另一棱鏡將這兩束光匯合,從而樣品中厚度上的微小差別就會轉(zhuǎn)化成明暗區(qū)別,增加了樣品反差,造成了三維立體感。
更新日期:2024-08-11
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
正置金相顯微鏡供應(yīng)MKL系列正置是針對半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的,作為高級用戶在使用時能夠體驗其*性能,可廣泛應(yīng)用于半導體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷部件、精密模具的檢測。本儀器采用了反射和透射兩種照明形式,在反射光照明下可進行明暗場觀察和DIC觀察、偏光觀察。在透射光下作明場觀察。穩(wěn)定、高品質(zhì)的光學系統(tǒng)使成像更清晰
更新日期:2024-08-11
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
金相分析圖譜供應(yīng) 根據(jù)國家標準GB 10651-89,美國標準 ASTM:E45-87,主要適用于經(jīng)過延伸變形(如軋制、鍛造、冷拔等)的鋼材中非金屬夾雜物的顯微評定。檢驗夾雜物一般同時檢驗幾種類型的夾雜并經(jīng)常進行淬火處理。鋼中主要的元素是鐵,但并非純鐵,其中會含有一定的雜質(zhì),雜物共有四種,分為A、B、C、D四類,A代表硫化物,B代表氧化鋁,C代表硅酸鹽類,D代表球狀氧化
更新日期:2024-08-11
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
倒置金相顯微鏡供應(yīng) 本顯微鏡是用于鑒別和分析金屬內(nèi)部的結(jié)構(gòu)組織,為金屬物理學研究金相的重要工具,特別是鋼鐵、鍋爐、礦山、機床、工具、汽車、造船、軸承、柴油機、農(nóng)機等工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備。凡鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究、原材料的檢驗或材料處理后的分析等均可使用本儀器。該儀器可配用攝像裝置,攝取金相圖譜。具有對圖譜進行測量、分析、編輯、輸出、存儲、管理等功能。
更新日期:2024-08-11
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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